薄膜铌酸锂测试系统-全自动芯片测试台 项目所在采购意向: 年月政府采购意向 采购单位: 采购项目名称: 薄膜铌酸锂测试系统-全自动芯片测试台 预算金额: .万元(人民币) 采购品目: 集成电路参数测量仪 采购需求概况 : 项目需要薄膜铌酸锂测试系统,该设备集成硬件、软件搭配视觉系统,实现芯片全自动化测试,中 间过程无需人工参与,大大提高测试效率及精确度。设备自动化测试功能,能够实现自动上下料、自动 扎针加电、自动耦合,生成测试数据,减少对人工依赖性。 预计采购时间: - 备注: / 本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
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