薄膜铌酸锂测试系统-全自动芯片测试台
项目所在采购意向:
年月政府采购意向
采购单位:
采购项目名称:
薄膜铌酸锂测试系统-全自动芯片测试台
预算金额:
.万元(人民币)
采购品目:
集成电路参数测量仪
采购需求概况 :
项目需要薄膜铌酸锂测试系统,该设备集成硬件、软件搭配视觉系统,实现芯片全自动化测试,中 间过程无需人工参与,大大提高测试效率及精确度。设备自动化测试功能,能够实现自动上下料、自动 扎针加电、自动耦合,生成测试数据,减少对人工依赖性。
预计采购时间:
-
备注:
/
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
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