存储芯片晶圆级测试系统
项目所在采购意向：
中国科学院微电子研究所年至月政府采购意向
采购单位：
中国科学院微电子研究所
采购项目名称：
存储芯片晶圆级测试系统
预算金额：
.万元(人民币)
采购品目：
-半导体器件参数测量仪
采购需求概况 ：
采购标的名称：存储芯片晶圆级测试系统 主要功能： 搭配测试板卡直接对晶圆测试，准确测取晶圆数据，分析晶圆不同位置的器件性能，分析工艺参数对器件影响，反馈到光刻制程，建立器件可靠性与光刻参数工艺库，目标提高测试和工艺优化迭代效率。 采购标的数量：台 质量要求： 、可实现对新型存储器芯片的性能测试； 、最多提供路数字通道资源，可进行最多并行同测； 、可与/连接，进行自动测试； 、最大支持路源，路，路单元和卡； 、支持最高工作频率；测试通道频率支持最高。 服务、安全、时限等要求： 提供设备验收合格后年质保。提供符合现场实际情况的设备安装方案。设备订单生成后年内交货安装完成。
预计采购时间：
-
备注：
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
发布媒体:
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