热变形翘曲检测设备
项目所在采购意向：
中国科学院微电子研究所年至月政府采购意向
采购单位：
中国科学院微电子研究所
采购项目名称：
热变形翘曲检测设备
预算金额：
.万元(人民币)
采购品目：
-热分析仪
采购需求概况 ：
先进封装载板及元器件容易发生翘曲，导致器件功能失效。项目须借助此设备阴影云纹干涉检测方式提前预知器件在回流焊过程中的形变参数，及早调整材料及工艺参数，其为分析及修改工艺制程起到了积极作用。
预计采购时间：
-
备注：
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
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